上海市伯东高低温测试机ATS-545在极低输出功率模拟芯片里的运用
根据22nm、40nm、55nm取得成功研发了NB-IoT/IoT仿真模拟IP服务平台, 包括了整套nA级超低功耗仿真模拟IP, 包含50nA的超低功耗LDO, 80nA Bandgap, 零静态功耗POR, 25uA的超低功耗DCDC, 0.8uW SAR-ADC, 0.5uW PLL及适用低能耗方式的多功能IO库. 在55nm、110nm、130nm、180nm等CMOS和Embedded-flash工艺制造上, 取得成功研发了MCU仿真模拟IP服务平台, 文中关键介绍上海伯东inTEST ATS-545在极低输出功率模拟芯片里的运用.
上海市伯东高低温测试机ATS-545在极低输出功率模拟芯片里的运用的缘故:
现阶段的低功耗设计首先从ic设计和控制系统设计2个角度考虑. 伴随着半导体工艺的迅猛发展和处理芯片输出功率的提升, 芯片功能损耗快速提升, 而功率提升又可能导致处理芯片热值的扩大和可信性的降低. 因而, 功能损耗成为了深亚微米集成电路中的一个重要参考标准. 为了能让商品更具有竞争能力, 必须在不一样环境温度自然环境对模拟芯片开展功能测试, 以保证可在综合性繁杂的环境里正常启动, 顾客*终选了ATS-545高低温冲击机进行测试.
极低输出功率模拟芯片检测方式：
具体方法如下所示.
1.将处理芯片放置在已处理好的工作服中；
2.将sensor一端联接热气罩上相匹配插口, 一端与处理芯片表层触碰；
3.将ATS-545热气罩转至工作服服务平台并舒张压固定不动；
4.运行ATS-545高低温冲击机加温至必须测试环境温度点；
5.运行芯片设计机器设备对处理芯片在-55度及125度中进行功能测试并记录数据；
ATS-545高低温冲击机在通信芯片等方面的客户数据分析：
成都市锐成芯微电子技术, 根据伯东选购ATS-545高低温冲击机
inTEST ThermoStream高低温测试机 ATS-545 功能特性：
与友厂比照, inTEST ThermoStream 特有的专利权全自动复叠式制冷系统软件 (auto cascade refrigeration) 确保超低温, 内嵌 AC 沟通交流制冷压缩机, 制冷机组 Chiller 独特设计方案, 冷媒没有空调氟利昂, 无毒无害, 不易燃性, 有1.效保护生态环境; 专利权 ESD 抗静电维护设计方案
2.旋纽式操作面板, 适用数据测试存放
3.超温过温保护: 系统恢复环境温度 230°C
4.加温模式中, 制冷机组可变换成待机状态, 从而减少电力消耗
5.干躁气旋不断吹洗检测表层, 避免水汽凝固
inTEST 高低温测试方式：给予二种检验方式 Air Mode 和 DUT Mode
根据热气罩或检测腔将待测 IC 与周围环境分隔, 再对 IC 循环系统喷涌冷热交替气旋, 使IC 环境温度短期内出现大幅度转变, 进而进行温度循环和温度冲击的检测.
上海市伯东是德国 Pfeiffer 真空泵泵, 测漏仪, 质谱仪器, 真空计, 国外 KRI 考夫曼离子源, 国外 inTEST 高低温冲击测试机, 国外 Ambrell 中频感应炉和日本 NS 正离子蚀刻机等进口的知名品牌的特定地区代理.
咱们真心实意希望与你深度合作！
如果您必须进一步的掌握详细资料或探讨, 请见下列联系方式：
上海市伯东: 赵先生 中国台湾伯东: 李小姐
T: 86-21-5046-1322 T: 886-3-567-9508 ext 161
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关键提醒：高低温测试机ATS-545用以极低输出功率模拟芯片上检测
上海市伯东高低温测试机ATS-545在极低输出功率模拟芯片里的运用
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具体方法如下所示.
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2.将sensor一端联接热气罩上相匹配插口, 一端与处理芯片表层触碰；
3.将ATS-545热气罩转至工作服服务平台并舒张压固定不动；
4.运行ATS-545高低温冲击机加温至必须测试环境温度点；
5.运行芯片设计机器设备对处理芯片在-55度及125度中进行功能测试并记录数据；
ATS-545高低温冲击机在通信芯片等方面的客户数据分析：
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3.超温过温保护: 系统恢复环境温度 230°C
4.加温模式中, 制冷机组可变换成待机状态, 从而减少电力消耗
5.干躁气旋不断吹洗检测表层, 避免水汽凝固
inTEST 高低温测试方式：给予二种检验方式 AIr Mode 和 DUT Mode
根据热气罩或检测腔将待测 IC 与周围环境分隔, 再对 IC 循环系统喷涌冷热交替气旋, 使IC 环境温度短期内出现大幅度转变, 进而进行温度循环和温度冲击的检测.
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